Source: FT中文网 ↗

中比双重国籍研究员因涉嫌窃取芯片机密被捕

|

Translation unavailable. Please try again.

What the source reports

比利时检方称,有“迹象”显示,嫌疑人在加入现已破产的半导体制造商Belgan数月后,又出任一家中国科技公司的董事。

Read the original report on FT中文网 ↗

Recommended markets